| Nazwa marki: | ZMSH |
| Numer modelu: | 8-calowa płytka safirowa |
| MOQ: | 25 |
| Cena: | Fluctuates with market |
| Czas dostawy: | 2-4 tygodnie |
| Warunki płatności: | T/T |
Przegląd produktu
8-calowy (200 mm) wafelek szafirowy to podłoże półprzewodnikowe wielkoformatowe, wykonane z wysokiej czystości syntetycznego monokryształu tlenku glinu (α-Al₂O₃). Służy jako podstawowe podłoże dla epitaksji LED, urządzeń mocy GaN i urządzeń optoelektronicznych RF w przemyśle półprzewodników trzeciej generacji. Monokryształ jest głównie hodowany metodą Kyropoulosa i przetwarzany za pomocą precyzyjnych procedur, w tym cięcia wielodrutowego, docierania i polerowania chemiczno-mechanicznego.
Łącząc zaletę masowej produkcji o dużej średnicy z wewnętrznymi właściwościami szafiru — odpornością na wysokie temperatury, izolacją elektryczną i odpornością na korozję chemiczną — jest kompatybilny z liniami produkcyjnymi epitaksji MOCVD na dużą skalę, skutecznie zwiększając wydajność chipów i obniżając jednostkowy koszt produkcji, co czyni go krytycznym materiałem podstawowym w zaawansowanych dziedzinach optoelektroniki i półprzewodników.
Kluczowe cechy techniczne
Kompatybilność z masową produkcją na dużą skalę
Dzięki dużej średnicy 200 mm (8 cali), efektywna powierzchnia epitaksjalna na wafelek jest 4 razy większa niż w przypadku wafli 4-calowych. Jest kompatybilny z urządzeniami MOCVD na dużą skalę, takimi jak reaktory 12-waflowe, znacznie zwiększając wydajność chipów na partię i obniżając koszt podłoża na chip. Spełnia wymagania masowej produkcji urządzeń Mini/Micro LED i urządzeń mocy.
System materiałowy o wysokiej czystości monokryształu
Wykonany z surowca tlenku glinu o czystości od klasy 4N5 do 5N (99,995% do 99,999%), posiada heksagonalną strukturę monokryształu fazy α o niskiej gęstości dyslokacji i doskonałej integralności krystalicznej, wolny od segregacji zanieczyszczeń i defektów sieci krystalicznej, zapewniając jednorodność wzrostu warstwy epitaksjalnej i wydajność urządzeń.
Doskonała stabilność termiczna
Przy punkcie topnienia 2050°C, struktura krystaliczna pozostaje stabilna w środowisku epitaksji MOCVD o wysokiej temperaturze 1000~1200°C. Posiada niski współczynnik rozszerzalności cieplnej i minimalne odkształcenia od wypaczenia podczas procesów wysokotemperaturowych, a także może wytrzymać wielokrotne cykle wysokotemperaturowe, aby zapewnić spójność wzrostu warstwy epitaksjalnej.
Doskonałe właściwości izolacji elektrycznej i dielektryczne
Wewnętrzny szafir o wysokiej czystości posiada doskonałą izolację elektryczną z rezystywnością w temperaturze pokojowej wyższą niż 10¹⁴ Ω·cm i niskimi stratami dielektrycznymi. Zapewnia skuteczną izolację elektryczną między urządzeniami, tłumi prądy upływu i zakłócenia sygnału w warunkach wysokiego napięcia, spełniając wymagania wydajnościowe urządzeń mocy GaN wysokiego napięcia i urządzeń RF.![]()
Ultraprecyzyjna obróbka powierzchni na poziomie epitaksjalnym
Dostępne są procesy polerowania jednostronnego (SSP) i dwustronnego (DSP). Powierzchnia epitaksjalna jest obrabiana polerowaniem chemiczno-mechanicznym (CMP) z chropowatością powierzchni Ra ≤ 0,2 nm, osiągając płaskość na poziomie atomowym. Całkowita zmienność grubości (TTV), łuk i wypaczenie są ściśle kontrolowane, w pełni spełniając wymagania powierzchniowe dla wzrostu epitaksjalnego GaN metodą MOCVD.
Silna odporność na chemikalia i plazmę
Szafir charakteryzuje się niezwykle silną obojętnością chemiczną, nierozpuszczalny w większości roztworów kwasów i zasad w temperaturze pokojowej. Może wytrzymać trudne środowiska procesowe, takie jak trawienie plazmowe i czyszczenie na mokro w produkcji półprzewodników, z minimalnymi uszkodzeniami korozyjnymi i zanieczyszczeniem cząsteczkami na powierzchni, zapewniając czystość procesu i niezawodność urządzeń.
Polimorfizm i wsparcie dla niestandardowych parametrów
Orientacja płaszczyzny C (0001) jest dostarczana jako standard, podczas gdy dostępne są również specjalne orientacje, w tym płaszczyzna A, płaszczyzna R i płaszczyzna M, z możliwością dostosowania specyfikacji kąta odchylenia. Parametry takie jak grubość, fazowanie krawędzi i płaskie/wycięcia mogą być dostosowane do wymagań klienta, dostosowując się do różnych procesów urządzeń i specyfikacji sprzętu.
Wysoka wytrzymałość mechaniczna i kompatybilność z dalszą obróbką
Z twardością Mohsa 9, ustępującą jedynie diamentowi, posiada doskonałą sztywność mechaniczną i odporność na zginanie. Może wytrzymać różne procedury dalszej obróbki, takie jak rozcieńczanie, cięcie, wzorowanie PSS i metalizacja, bez odpryskiwania lub pękania krawędzi, dostosowując się do różnorodnych rozwiązań procesowych urządzeń.
Standardowe specyfikacje
| Pozycja | Specyfikacja |
|---|---|
| Nazwa produktu | 8-calowy wafelek szafirowy |
| Materiał |
Wysokiej czystości syntetyczny monokryształ tlenku glinu (α-Al₂O₃)
|
| Średnica | 8 cali ± 0,1 mm (200 mm) |
| Standardowa grubość | 650 μm / 800 μm / 1000 μm (możliwość dostosowania) |
| Orientacja kryształu |
Płaszczyzna C (0001) jako standard, płaszczyzny A/R/M do dostosowania
|
| Wykończenie powierzchni |
SSP / DSP / Docierany
|
| Chropowatość powierzchni |
Powierzchnia polerowana Ra ≤ 0,2 nm
|
| TTV | ≤ 5 μm (możliwość dostosowania zgodnie z wymaganiami) |
| Łuk / Wypaczenie | ≤ 10 μm (możliwość dostosowania zgodnie z wymaganiami) |
| Obróbka krawędzi |
Fazowana, z opcją płaskiego/wycięcia
|
| Czystość materiału | Klasa 4N5 ~ 5N / Klasa 4N5 ~ 5N |
| Metoda wzrostu | (Kyropoulos) / Metoda Kyropoulosa |
| Zastosowanie |
Epitaksja LED, półprzewodniki mocy, urządzenia RF, okna optyczne itp.
|
![]()
Typowe zastosowania
Kontrola jakości
W całym procesie wdrożony jest system kontroli jakości klasy półprzewodnikowej. Każda partia produktów przechodzi wielowymiarową inspekcję, a kompletny Certyfikat Analizy (COA) może zostać dostarczony. Pozycje kontrolne obejmują inspekcję dokładności wymiarowej, weryfikację odchylenia orientacji kryształu, testowanie płaskości i chropowatości powierzchni, skanowanie defektów wizualnych (rysy, wżery, odpryski krawędzi), testowanie czystości i weryfikację szczelności opakowania, zapewniając spójność parametrów produktu i niezawodność procesu.![]()
FAQ
Jaka jest kluczowa różnica między 8-calowymi waflami szafirowymi a mniejszymi waflami 4/6-calowymi?
8-calowy wafelek zapewnia znacznie większą użyteczną powierzchnię epitaksjalną — około 4 razy większą niż wafelek 4-calowy i 1,8 razy większą niż wafelek 6-calowy. Jest kompatybilny z reaktorami MOCVD o dużej pojemności, zwiększa wydajność chipów na partię i obniża koszt chipów jednostkowych. Lepiej nadaje się do linii produkcyjnych na dużą skalę urządzeń Mini/Micro LED i urządzeń mocy GaN wysokiego napięcia, podczas gdy wafle 4/6-calowe są częściej stosowane do badań i rozwoju oraz produkcji na małą i średnią skalę.
Czy grubość 8-calowych wafli szafirowych można dostosować?
Tak. Standardowe opcje grubości obejmują 650 μm, 800 μm i 1000 μm, a niestandardowe specyfikacje grubości mogą być produkowane w celu dopasowania do wymagań procesu klienta. Parametry TTV, łuk i wypaczenie są ściśle kontrolowane dla wszystkich opcji grubości, aby zagwarantować płaskość i kompatybilność procesową.
Czy oferujecie orientacje kryształu inne niż płaszczyzna C (0001) i czy można dostosować kąt odchylenia?
Tak. Oprócz standardowej płaszczyzny C do epitaksji GaN LED, dostępne są płaszczyzny A, R i M do urządzeń RF SOS, urządzeń GaN niepolarnych i specjalistycznych zastosowań optycznych. Precyzyjny kąt odchylenia można również dostosować zgodnie z rysunkami klienta lub potrzebami procesu epitaksjalnego, aby zoptymalizować jakość warstwy epitaksjalnej.
Czy można zastosować dodatkowe procesy, takie jak wzorowanie PSS lub metalizacja, do wafli?
Tak. Dostępne są usługi o wartości dodanej, w tym wzorowanie PSS/NPSS, pełna lub lokalna metalizacja tylnej strony, precyzyjne fazowanie krawędzi i rozcieńczanie ultra-cienkich wafli. Wykonalność zależy od wymiarów wzoru, materiałów powłokowych, grubości wafla i wymaganego wytrzymałości mechanicznej.
Czy wspieracie zamówienia prototypów małoseryjnych dla 8-calowych wafli szafirowych?
Tak. Akceptowane są ilości prototypowe, partie próbne w skali laboratoryjnej i zamówienia wymiany konserwacyjnej. Ceny i czas realizacji będą oceniane na podstawie niestandardowych parametrów, trudności przetwarzania i wymaganego stopnia jakości.
![]()
![]()