Wraz z ewolucją urządzeń półprzewodnikowych w kierunku cieńszych płytek, bardziej kruchych struktur i wyższej gęstości integracji, konwencjonalne technologie cięcia płytek napotykają coraz większe wyzwania. Urządzenia MEMS, układy scalone pamięci, półprzewodniki mocy i ultra cienkie obudowy wymagają wyższej wytrzymałości chipów, minimalnego zanieczyszczenia i doskonałej stabilności plonu.
Technologia Stealth Dicing™ wprowadza fundamentalnie inne podejście do separacji płytek. W przeciwieństwie do cięcia ostrzem lub ablacji laserowej powierzchniowej, Stealth Dicing wykorzystuje wewnętrzny proces modyfikacji laserowej do inicjowania kontrolowanego pękania wewnątrz płytki. Płytka jest następnie rozdzielana przez zastosowanie zewnętrznego naprężenia rozciągającego, eliminując uszkodzenia powierzchni, zanieczyszczenia i straty materiału.
Ten suchy, bezkontaktowy proces zapewnia znaczące korzyści w zakresie plonu, wytrzymałości, czystości i wydajności przetwarzania, czyniąc go kluczową technologią umożliwiającą produkcję półprzewodników nowej generacji.
![]()
Cięcie ostrzem wykorzystuje szybko obracające się ostrze diamentowe do fizycznego przecięcia płytki. Chociaż jest szeroko stosowane w przemyśle, to podejście mechaniczne stwarza kilka inherentnych wyzwań:
Wibracje mechaniczne wprowadzają naprężenia do urządzenia
Wymagana jest woda chłodząca, co zwiększa ryzyko zanieczyszczenia
Występują odpryski wzdłuż krawędzi cięcia
Strata materiału zmniejsza użyteczną powierzchnię płytki
Zanieczyszczenia i cząstki mogą uszkodzić kruche struktury
Plon jest ograniczony jakością krawędzi
Prędkość przetwarzania jest ograniczona zużyciem ostrza
W przypadku zaawansowanych urządzeń MEMS lub ultra cienkich płytek problemy te stają się jeszcze bardziej krytyczne.
Cięcie laserem ablacyjnym skupia wiązkę lasera na powierzchni płytki, aby stopić i odparować materiał, tworząc rowki oddzielające płytkę.
Chociaż eliminuje kontakt mechaniczny, wprowadza efekty termiczne:
Strefa wpływu ciepła (HAZ) degraduje wytrzymałość materiału
Topnienie powierzchni może uszkodzić warstwy metalu
Rozproszone cząstki zanieczyszczają urządzenia
Mogą być wymagane dodatkowe procesy powlekania ochronnego
Wytrzymałość chipa jest zmniejszona z powodu naprężeń termicznych
Przepustowość jest ograniczona szybkością usuwania materiału
W miarę jak geometrie urządzeń stają się delikatniejsze, metody usuwania materiału oparte na powierzchni stwarzają coraz większe ryzyko.
Stealth Dicing działa na zupełnie innej zasadzie fizycznej:modyfikacja wewnętrzna zamiast usuwania materiału z powierzchni.Kluczowe cechy:
Proces napromieniowania laserowego (tworzenie warstwy SD)
Proces ekspansji (kontrolowane rozdzielanie)
2.1 Proces napromieniowania laserowego – tworzenie warstwy SD
W punkcie ogniskowania tworzona jest zmodyfikowana warstwa wewnątrz struktury krystalicznej. Ten wewnętrzny obszar modyfikacji nazywany jest
Stealth Dicing Layer (SD Layer).Kluczowe cechy:
Brak ablacji powierzchniowej
Brak usuwania materiału
Inicjacja wewnętrznych mikropęknięć
Kontrolowane propagowanie pęknięć wzdłuż zaplanowanych linii cięcia
Pęknięcia rozciągają się od warstwy SD w kierunku obu powierzchni, górnej i dolnej. Skanując laser wzdłuż zamierzonej ścieżki cięcia, tworzy się ciągła wewnętrzna płaszczyzna pękania.
W przypadku grubych płytek lub urządzeń MEMS można utworzyć wiele warstw SD w kierunku grubości, aby zapewnić pełną kontrolę separacji.
2.2 Cztery tryby warstwy SD
Tryb
| Opis | Stan pęknięcia | ST (Stealth) |
|---|---|---|
| Pęknięcie pozostaje wewnętrzne | Nie dociera do powierzchni | HC (Half Cut) |
| Pęknięcie dociera do górnej powierzchni | Częściowe rozdzielenie | BHC (Bottom Half Cut) |
| Pęknięcie dociera do dolnej powierzchni | Rozdzielenie od strony dolnej | FC (Full Cut) |
| Pęknięcie przenika przez obie powierzchnie | Pełne rozdzielenie | Poprzez wybór i połączenie tych trybów można osiągnąć optymalne warunki przetwarzania dla różnych struktur półprzewodnikowych. |
2.3 Proces ekspansji – rozdzielanie indukowane naprężeniem
Zastosowane naprężenie rozciągające powoduje naturalne rozszerzenie wewnętrznych pęknięć do powierzchni płytki, rozdzielając poszczególne chipy.
Rozdzielenie następuje poprzez kontrolowane propagowanie pęknięć, a nie usuwanie materiału.
Zapewnia to kilka korzyści:
Brak wpływu mechanicznego na urządzenia
Brak naprężeń termicznych
Brak odprysków
Brak generowania zanieczyszczeń
Brak strat materiału
3. Zalety techniczne Stealth Dicing™
3.1 Proces całkowicie suchy
Zanieczyszczenie wodą
Ponowne osadzanie cząstek
Procesy suszenia
Dodatkowe etapy czyszczenia
Proces jest czysty i przyjazny dla środowiska.
3.2 Brak strat materiału
Stealth Dicing tworzy wewnętrzną płaszczyznę pękania bez usuwania materiału, co oznacza:
Maksymalne wykorzystanie płytki
Większa liczba chipów na płytkę
Poprawa efektywności kosztowej
3.3 Brak odprysków i brak HAZ
Brak odprysków krawędzi
Brak strefy wpływu ciepła
Brak degradacji wytrzymałości
Doskonała wytrzymałość na zginanie
Jest to szczególnie ważne w przypadku ultra cienkich płytek poniżej 50 μm.
3.4 Wyższy plon chipów
Poprawia się niezawodność urządzeń
Wzrasta plon
Kruche struktury membranowe MEMS pozostają nienaruszone
Warstwy metalowe i ochronne pozostają nienaruszone
3.5 Poprawiona przepustowość
Dodatkowo, SDBG (Stealth Dicing Before Grinding) umożliwia przetwarzanie ultra cienkich urządzeń poprzez utworzenie warstwy SD przed rozcieńczeniem.
Te postępy znacząco poprawiają produktywność w produkcji wielkoseryjnej.
4. Porównanie technologii cięcia
| Cięcie ostrzem | Cięcie ablacyjne | Stealth Dicing™ | Metoda przetwarzania |
|---|---|---|---|
| Szlifowanie mechaniczne | Usuwanie laserowe powierzchniowe | Wewnętrzna modyfikacja laserowa | Woda chłodząca |
| Wymagana | Nie wymagana | Nie wymagana | Odpryski |
| Występują | Mogą wystąpić | Nie występują | Strefa wpływu ciepła |
| Nie | Strata materiału | Brak | Strata materiału |
| Tak | Brak | Brak | Strata materiału |
| Tak | Brak | Brak | Wytrzymałość chipa |
| Zmniejszona | Wysoka | Wysoka | Nadaje się do ultra cienkich płytek |
| Umiarkowany | Wysoki | Wysoki | Nadaje się do ultra cienkich płytek |
| Ograniczony | Ryzykowny | Doskonały | Nadaje się do MEMS |
| Ryzyko uszkodzenia | Ryzyko zanieczyszczenia | Idealny | 5. Zastosowania |
Czujniki MEMS z kruchymi strukturami membranowymi
Urządzenia pamięci NAND i DRAM
Urządzenia półprzewodnikowe mocy
Urządzenia logiczne CMOS
Urządzenia optyczne
Płytki z warstwami metalu lub ochronnymi
Ultra cienkie obudowy (
<50 μm)Technologia jest szczególnie korzystna dla urządzeń o wysokiej wartości i wrażliwych strukturalnie.
6. Trendy branżowe i perspektywy przyszłości
Zaawansowane pakowanie
Architektury chipletów
Wysoka gęstość integracji
Ultra cienkie stosowanie chipów
Materiały szerokopasmowe (SiC, GaN)
Separacja płytek bez uszkodzeń staje się coraz bardziej krytyczna.
Stealth Dicing jest pozycjonowany jako kluczowa technologia umożliwiająca przetwarzanie półprzewodników nowej generacji.
Jego suchy proces wspiera również inicjatywy odpowiedzialnej produkcji przyjaznej dla środowiska poprzez zmniejszenie zużycia wody i generowania odpadów.
Wniosek
Poprzez zastąpienie cięcia mechanicznego i ablacji powierzchniowej wewnętrzną modyfikacją laserową i kontrolowanym pękaniem, eliminuje odpryski, zanieczyszczenia, uszkodzenia termiczne i straty materiału.
Wynik to:
Wyższa wytrzymałość chipa
Poprawiony plon
Czyste przetwarzanie
Lepsza przydatność do ultra cienkich i kruchych urządzeń
Zwiększona wydajność produkcji
Dla producentów półprzewodników poszukujących wyższej niezawodności, lepszej wydajności i poprawionej efektywności kosztowej, Stealth Dicing zapewnia potężne i przyszłościowe rozwiązanie.
Wraz z ewolucją urządzeń półprzewodnikowych w kierunku cieńszych płytek, bardziej kruchych struktur i wyższej gęstości integracji, konwencjonalne technologie cięcia płytek napotykają coraz większe wyzwania. Urządzenia MEMS, układy scalone pamięci, półprzewodniki mocy i ultra cienkie obudowy wymagają wyższej wytrzymałości chipów, minimalnego zanieczyszczenia i doskonałej stabilności plonu.
Technologia Stealth Dicing™ wprowadza fundamentalnie inne podejście do separacji płytek. W przeciwieństwie do cięcia ostrzem lub ablacji laserowej powierzchniowej, Stealth Dicing wykorzystuje wewnętrzny proces modyfikacji laserowej do inicjowania kontrolowanego pękania wewnątrz płytki. Płytka jest następnie rozdzielana przez zastosowanie zewnętrznego naprężenia rozciągającego, eliminując uszkodzenia powierzchni, zanieczyszczenia i straty materiału.
Ten suchy, bezkontaktowy proces zapewnia znaczące korzyści w zakresie plonu, wytrzymałości, czystości i wydajności przetwarzania, czyniąc go kluczową technologią umożliwiającą produkcję półprzewodników nowej generacji.
![]()
Cięcie ostrzem wykorzystuje szybko obracające się ostrze diamentowe do fizycznego przecięcia płytki. Chociaż jest szeroko stosowane w przemyśle, to podejście mechaniczne stwarza kilka inherentnych wyzwań:
Wibracje mechaniczne wprowadzają naprężenia do urządzenia
Wymagana jest woda chłodząca, co zwiększa ryzyko zanieczyszczenia
Występują odpryski wzdłuż krawędzi cięcia
Strata materiału zmniejsza użyteczną powierzchnię płytki
Zanieczyszczenia i cząstki mogą uszkodzić kruche struktury
Plon jest ograniczony jakością krawędzi
Prędkość przetwarzania jest ograniczona zużyciem ostrza
W przypadku zaawansowanych urządzeń MEMS lub ultra cienkich płytek problemy te stają się jeszcze bardziej krytyczne.
Cięcie laserem ablacyjnym skupia wiązkę lasera na powierzchni płytki, aby stopić i odparować materiał, tworząc rowki oddzielające płytkę.
Chociaż eliminuje kontakt mechaniczny, wprowadza efekty termiczne:
Strefa wpływu ciepła (HAZ) degraduje wytrzymałość materiału
Topnienie powierzchni może uszkodzić warstwy metalu
Rozproszone cząstki zanieczyszczają urządzenia
Mogą być wymagane dodatkowe procesy powlekania ochronnego
Wytrzymałość chipa jest zmniejszona z powodu naprężeń termicznych
Przepustowość jest ograniczona szybkością usuwania materiału
W miarę jak geometrie urządzeń stają się delikatniejsze, metody usuwania materiału oparte na powierzchni stwarzają coraz większe ryzyko.
Stealth Dicing działa na zupełnie innej zasadzie fizycznej:modyfikacja wewnętrzna zamiast usuwania materiału z powierzchni.Kluczowe cechy:
Proces napromieniowania laserowego (tworzenie warstwy SD)
Proces ekspansji (kontrolowane rozdzielanie)
2.1 Proces napromieniowania laserowego – tworzenie warstwy SD
W punkcie ogniskowania tworzona jest zmodyfikowana warstwa wewnątrz struktury krystalicznej. Ten wewnętrzny obszar modyfikacji nazywany jest
Stealth Dicing Layer (SD Layer).Kluczowe cechy:
Brak ablacji powierzchniowej
Brak usuwania materiału
Inicjacja wewnętrznych mikropęknięć
Kontrolowane propagowanie pęknięć wzdłuż zaplanowanych linii cięcia
Pęknięcia rozciągają się od warstwy SD w kierunku obu powierzchni, górnej i dolnej. Skanując laser wzdłuż zamierzonej ścieżki cięcia, tworzy się ciągła wewnętrzna płaszczyzna pękania.
W przypadku grubych płytek lub urządzeń MEMS można utworzyć wiele warstw SD w kierunku grubości, aby zapewnić pełną kontrolę separacji.
2.2 Cztery tryby warstwy SD
Tryb
| Opis | Stan pęknięcia | ST (Stealth) |
|---|---|---|
| Pęknięcie pozostaje wewnętrzne | Nie dociera do powierzchni | HC (Half Cut) |
| Pęknięcie dociera do górnej powierzchni | Częściowe rozdzielenie | BHC (Bottom Half Cut) |
| Pęknięcie dociera do dolnej powierzchni | Rozdzielenie od strony dolnej | FC (Full Cut) |
| Pęknięcie przenika przez obie powierzchnie | Pełne rozdzielenie | Poprzez wybór i połączenie tych trybów można osiągnąć optymalne warunki przetwarzania dla różnych struktur półprzewodnikowych. |
2.3 Proces ekspansji – rozdzielanie indukowane naprężeniem
Zastosowane naprężenie rozciągające powoduje naturalne rozszerzenie wewnętrznych pęknięć do powierzchni płytki, rozdzielając poszczególne chipy.
Rozdzielenie następuje poprzez kontrolowane propagowanie pęknięć, a nie usuwanie materiału.
Zapewnia to kilka korzyści:
Brak wpływu mechanicznego na urządzenia
Brak naprężeń termicznych
Brak odprysków
Brak generowania zanieczyszczeń
Brak strat materiału
3. Zalety techniczne Stealth Dicing™
3.1 Proces całkowicie suchy
Zanieczyszczenie wodą
Ponowne osadzanie cząstek
Procesy suszenia
Dodatkowe etapy czyszczenia
Proces jest czysty i przyjazny dla środowiska.
3.2 Brak strat materiału
Stealth Dicing tworzy wewnętrzną płaszczyznę pękania bez usuwania materiału, co oznacza:
Maksymalne wykorzystanie płytki
Większa liczba chipów na płytkę
Poprawa efektywności kosztowej
3.3 Brak odprysków i brak HAZ
Brak odprysków krawędzi
Brak strefy wpływu ciepła
Brak degradacji wytrzymałości
Doskonała wytrzymałość na zginanie
Jest to szczególnie ważne w przypadku ultra cienkich płytek poniżej 50 μm.
3.4 Wyższy plon chipów
Poprawia się niezawodność urządzeń
Wzrasta plon
Kruche struktury membranowe MEMS pozostają nienaruszone
Warstwy metalowe i ochronne pozostają nienaruszone
3.5 Poprawiona przepustowość
Dodatkowo, SDBG (Stealth Dicing Before Grinding) umożliwia przetwarzanie ultra cienkich urządzeń poprzez utworzenie warstwy SD przed rozcieńczeniem.
Te postępy znacząco poprawiają produktywność w produkcji wielkoseryjnej.
4. Porównanie technologii cięcia
| Cięcie ostrzem | Cięcie ablacyjne | Stealth Dicing™ | Metoda przetwarzania |
|---|---|---|---|
| Szlifowanie mechaniczne | Usuwanie laserowe powierzchniowe | Wewnętrzna modyfikacja laserowa | Woda chłodząca |
| Wymagana | Nie wymagana | Nie wymagana | Odpryski |
| Występują | Mogą wystąpić | Nie występują | Strefa wpływu ciepła |
| Nie | Strata materiału | Brak | Strata materiału |
| Tak | Brak | Brak | Strata materiału |
| Tak | Brak | Brak | Wytrzymałość chipa |
| Zmniejszona | Wysoka | Wysoka | Nadaje się do ultra cienkich płytek |
| Umiarkowany | Wysoki | Wysoki | Nadaje się do ultra cienkich płytek |
| Ograniczony | Ryzykowny | Doskonały | Nadaje się do MEMS |
| Ryzyko uszkodzenia | Ryzyko zanieczyszczenia | Idealny | 5. Zastosowania |
Czujniki MEMS z kruchymi strukturami membranowymi
Urządzenia pamięci NAND i DRAM
Urządzenia półprzewodnikowe mocy
Urządzenia logiczne CMOS
Urządzenia optyczne
Płytki z warstwami metalu lub ochronnymi
Ultra cienkie obudowy (
<50 μm)Technologia jest szczególnie korzystna dla urządzeń o wysokiej wartości i wrażliwych strukturalnie.
6. Trendy branżowe i perspektywy przyszłości
Zaawansowane pakowanie
Architektury chipletów
Wysoka gęstość integracji
Ultra cienkie stosowanie chipów
Materiały szerokopasmowe (SiC, GaN)
Separacja płytek bez uszkodzeń staje się coraz bardziej krytyczna.
Stealth Dicing jest pozycjonowany jako kluczowa technologia umożliwiająca przetwarzanie półprzewodników nowej generacji.
Jego suchy proces wspiera również inicjatywy odpowiedzialnej produkcji przyjaznej dla środowiska poprzez zmniejszenie zużycia wody i generowania odpadów.
Wniosek
Poprzez zastąpienie cięcia mechanicznego i ablacji powierzchniowej wewnętrzną modyfikacją laserową i kontrolowanym pękaniem, eliminuje odpryski, zanieczyszczenia, uszkodzenia termiczne i straty materiału.
Wynik to:
Wyższa wytrzymałość chipa
Poprawiony plon
Czyste przetwarzanie
Lepsza przydatność do ultra cienkich i kruchych urządzeń
Zwiększona wydajność produkcji
Dla producentów półprzewodników poszukujących wyższej niezawodności, lepszej wydajności i poprawionej efektywności kosztowej, Stealth Dicing zapewnia potężne i przyszłościowe rozwiązanie.